相关力学显微镜

材料科学的核心主题之一是微观结构与力学性能之间的关系。力学显微镜技术为同时测量微观结构与力学性能提供了一种强大的新方法。

EDS（能量色散 X 射线光谱）和 EBSD（电子背散射衍射）等分析技术可对局部成分以及晶体结构和取向信息进行表征。这些技术与纳米压痕测绘相结合，通过我们所称的“相关力学显微镜”，为材料的结构、成分和力学性能之间的关系提供了新的见解。